Componente

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Año de fabricación: 2025, Estado: nuevo, Sistema de inspección por rayos X para paquetes y bolsas de tamaño mediano. Adecuado para la detección de cuerpos extraños de metal, vidrio, piedra, plástico, etc. en artículos alimenticios o no alimenticios. - Especificaciones: Ancho de la cinta transportadora: 410 mm; Precisión de detección: Pb desde Ø 0,2 mm, Fe desde Ø 0,28 mm, SUS desde Ø 0,28 mm, no metálicos como piedra, vidrio, desde Ø 1,2 mm; Potencia de rayos X: 80 kVp, 1,25 mA; Resolución del detector: 0,4 mm; Emisiones de rayos X: < 1usv/h; Altura de la cinta transportadora: 850 ± 30 mm; Velocidad de la cinta transportadora (dependiendo del producto): 10 – 100 m/min; Interfaz de usuario: Pantalla táctil de 15"; Software: intellisens®X-ray; Temperatura de funcionamiento: 5 – 35 °C; Sistema de eyección: disponible opcionalmente según requisitos; Alimentación: 220 V CA, 50/60 Hz; Dimensiones del sistema: L900 x An920 x Al1825 mm; Peso: 350 kg. Itodpfxev Nm Ino Aamjr Tenga en cuenta que nuestros nuevos precios suelen ser más bajos que los precios usados habituales. Simplemente pregúntenos y díganos su tarea de embalaje. - Normalmente hay entre 30 y 50 máquinas nuevas diferentes disponibles de inmediato en stock. Además, tenemos plazos de entrega muy cortos de aproximadamente 3 semanas para máquinas fabricadas según las especificaciones del cliente. - Todas las máquinas están disponibles con garantía total.

Estado: repositorio de repuestos defecto (usado), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 Analizador de fluorescencia de rayos X – Suministrador de repuestos / defectuoso Descripción del artículo: Se vende un analizador de fluorescencia de rayos X usado, modelo Oxford Instruments X-Strata 960. El equipo proviene de la desinstalación de un laboratorio y se ofrece exclusivamente como suministrador de repuestos o para fines de reparación. No se ha realizado una prueba de funcionamiento, por lo que el equipo se considera defectuoso a efectos de la venta. Datos técnicos – Oxford Instruments X-Strata 960 (sin compromiso) Característica Descripción Modelo X-Strata 960 Fabricante Oxford Instruments Método de análisis Análisis por fluorescencia de rayos X (XRF) Ámbitos de aplicación Medición de espesores de capa, análisis de materiales, verificación de metales preciosos Geometría de medición Irradiación superior o inferior según configuración Fuente de radiación Tubo de rayos X (por ej., ánodo de rodio), 50–100 W de potencia Detector Contador proporcional o detector de deriva de silicio (SDD), según variante Rango de medición Espesor de capa aprox. 0,005 – 50 µm (dependiendo del material) Tamaño del punto aprox. 15 μm – 1 mm (según colimador) Eje Z Motorizado, hasta aprox. 230 mm de altura de medición Cámara de muestras aprox. 580 × 510 × 230 mm (ancho × fondo × alto) Mesa de muestras Manual o motorizada (200 × 200 mm o mayor, según equipamiento) Sistema de enfoque Óptico / láser, en parte automático Sistema operativo PC industrial integrado con software de análisis basado en Windows Alimentación eléctrica 220–240 V / 50–60 Hz / aprox. 500–800 W Peso del equipo aprox. 150–200 kg (según versión) Condición: usado / defectuoso / para repuestos Contenido de la entrega: según imágenes – sin accesorios ni software Notas importantes: Venta expresamente como equipo defectuoso sin garantía de funcionamiento. El artículo se ofrece como suministrador de repuestos o para usuarios avanzados. No se garantiza el funcionamiento, integridad ni los parámetros técnicos. Venta comercial bajo exclusión total de responsabilidad por vicios materiales, conforme al § 447 BGB (venta a distancia). Contenido de la entrega: Oxford Instruments X-Strata 960 Todos los componentes visibles en las imágenes No se incluyen otras piezas, accesorios o documentación, salvo indicación expresa. Envío y recogida: Recogida posible y preferente en Borken Envío bajo consulta previa posible. (¡Modificaciones y errores en los datos técnicos y especificaciones reservados!) Itjdehaapfspfx Aamsr Estaremos encantados de responder a cualquier otra pregunta por teléfono.

Año de fabricación: 2016, Estado: muy bueno (usado), Inspección automática por rayos X Itodpfx Aaewpuadjmor Para la inspección de BGA, QFN, THT, LED, LGA y otras uniones de soldadura, ya sean visibles u ocultas. Otras características: Incluye estación fuera de línea y estación de reparación Sistema operativo: Windows 7 Detectores CCD de escaneo lineal de ultraalta velocidad Área de inspección: 450 mm - 400 mm Adquisición de imágenes: 2D, 2.5D, 3D (imágenes de corte con TC planar) Dimensiones de la PCB: 60 - 450 x 50 - 400 mm Resolución AXI: 6 - 30 µm / px AOI: Campo de visión de la cámara: 42 mm x 42 mm Resolución: 21 µm Altura de inspección: -3 a 7,5 mm Óptica: telecéntrica Altura de transporte: 950 mm ± 25 mm Interfaz: SMEMA Ajuste de anchura: automático

Año de fabricación: 2016, Estado: listo para usar (usado), Ya está disponible un nuevo sistema de inspección por rayos X de Anritsu. Potencia de rayos X: 100 W, ancho máximo de detección: 240 mm, altura máxima de detección: 120 mm, velocidad de detección de 2 kg a 5 kg: 10 m-60 m/min, velocidad de detección hasta 2 kg: 60 m-90 m/min, velocidad de detección de 5 kg a 10 kg: 10 m-40 m/min, material de la carcasa: acero inoxidable, peso de la máquina: aprox. 255 kg, horas de funcionamiento: menos de 50 h. La máquina no presenta desgaste alguno en la cinta transportadora ni en las cortinas de protección radiológica. Documentación disponible. Es posible realizar una inspección in situ. Ijdpfx Aaevzr Ausmjtr

Estado: usado, PANalytical X’Pert PRO MPD Difractómetro de Rayos X (XRD) Extracto del informe de servicio: Equipo: PANalytical X’Pert PRO MPD Elaborado el: 07.07.2021 Trabajos realizados: - Reinstalación y puesta en marcha del sistema - Conexión de líneas de suministro externas - Fase de calentamiento - Alineación completa del goniómetro y otros componentes - Realización de mantenimiento, incluyendo el reemplazo de piezas defectuosas Componentes de repuesto utilizados: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERÍA. NI-CD VENTILADOR PARA UNIDAD X-CELERATOR FAN FILTRO DE AGUA Motor PW3050 (“El equipo no fue probado en nuestras instalaciones”) El X’Pert PRO MPD es un difractómetro de rayos X (XRD) muy versátil y potente para la caracterización estructural de materiales cristalinos. – Perfecto tanto para la investigación pura como para aplicaciones de rutina en la industria y la universidad. Gracias a su diseño modular, detección rápida, control de temperatura y atmósfera, es excelente tanto para análisis rutinarios como para experimentos complejos in situ. Características clave: Diferentes geometrías de medición posibles: - Reflexión en modo Bragg-Brentano (θ–2θ) - Geometría de transmisión para polvos en capilares - Opcionalmente SAXS (Dispersión de Rayos X a Bajo Ángulo) para nanoestructuras Fuente de radiación y detectores: - Generalmente ánodo de cobre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Detector X’Celerator (1D, ultrarrápido) para adquisición de datos paralela Sistema modular con tecnología PreFIX: - Cambio rápido de ópticas y platinas de muestra sin recalibración Mediciones in situ a altas temperaturas: - Medición hasta aprox. 1200°C posible Ijdpfjwycatox Aametr - Atmósfera controlada: aire, nitrógeno, oxígeno (reducido de forma limitada) Aplicaciones típicas: - Análisis de fases y análisis cuantitativo de Rietveld - Determinación del tamaño de cristalito, microdeformaciones, tensiones residuales - Investigación in situ de transiciones de fase, oxidación, cristalización, etc. - Mediciones SAXS para análisis de nanopartículas, estructuras porosas - Amplio espectro de muestras: polvos, capas delgadas, cerámicas, productos farmacéuticos, catalizadores, entre otros. Datos técnicos (típicos) Propiedad y especificación Rango angular (2θ): aprox. 0,5° a 150° Paso: hasta 0,002° o más fino Goniómetro: vertical, 0–0, radio aprox. 240 mm Rango de temperatura: temperatura ambiente hasta aprox. 1200 °C Atmósfera: aire, N₂, O₂ (reducción limitada) Detectores: X’Celerator (1D), contador proporcional Difusión y campos de aplicación: El X’Pert PRO MPD se utiliza en todo el mundo, p. ej. en: - Universidades (ETH Zurich, TU Dresden, Universidad de Viena) - Institutos de investigación (p.ej. Institutos Max Planck, ICN2, IS2M) - Industria (p.ej. desarrollo de materiales, farmacéutica, química) Estado: usado / used Alcance de suministro: (Ver imagen) (Nos reservamos el derecho a realizar cambios y errores en los datos técnicos y la información proporcionada.) Para cualquier consulta adicional, estaremos encantados de atenderle por teléfono.

Estado: bueno (usado), Helmut Fischer Fischerscope medición de espesor de recubrimientos por fluorescencia de rayos X XDL-XYmZ Ijdpfx Aajw Hbkdemstr