Difractómetro de rayos X (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical X’Pert PRO MPD Difractómetro de Rayos X (XRD)

Extracto del informe de servicio:
Equipo: PANalytical X’Pert PRO MPD
Elaborado el: 07.07.2021
Trabajos realizados:
- Reinstalación y puesta en marcha del sistema
- Conexión de líneas de suministro externas
- Fase de calentamiento
- Alineación completa del goniómetro y otros componentes
- Realización de mantenimiento, incluyendo el reemplazo de piezas defectuosas

Componentes de repuesto utilizados:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERÍA. NI-CD
VENTILADOR PARA UNIDAD X-CELERATOR FAN
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FILTRO DE AGUA
Motor PW3050
(“El equipo no fue probado en nuestras instalaciones”)

El X’Pert PRO MPD es un difractómetro de rayos X (XRD) muy versátil y potente para la caracterización estructural de materiales cristalinos.
– Perfecto tanto para la investigación pura como para aplicaciones de rutina en la industria y la universidad. Gracias a su diseño modular, detección rápida, control de temperatura y atmósfera, es excelente tanto para análisis rutinarios como para experimentos complejos in situ.

Características clave:
Diferentes geometrías de medición posibles:
- Reflexión en modo Bragg-Brentano (θ–2θ)
- Geometría de transmisión para polvos en capilares
- Opcionalmente SAXS (Dispersión de Rayos X a Bajo Ángulo) para nanoestructuras

Fuente de radiación y detectores:
- Generalmente ánodo de cobre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Detector X’Celerator (1D, ultrarrápido) para adquisición de datos paralela

Sistema modular con tecnología PreFIX:
- Cambio rápido de ópticas y platinas de muestra sin recalibración

Mediciones in situ a altas temperaturas:
- Medición hasta aprox. 1200°C posible
- Atmósfera controlada: aire, nitrógeno, oxígeno (reducido de forma limitada)

Aplicaciones típicas:
- Análisis de fases y análisis cuantitativo de Rietveld
- Determinación del tamaño de cristalito, microdeformaciones, tensiones residuales
- Investigación in situ de transiciones de fase, oxidación, cristalización, etc.
- Mediciones SAXS para análisis de nanopartículas, estructuras porosas
- Amplio espectro de muestras: polvos, capas delgadas, cerámicas, productos farmacéuticos, catalizadores, entre otros.

Datos técnicos (típicos)
Propiedad y especificación
Rango angular (2θ): aprox. 0,5° a 150°
Paso: hasta 0,002° o más fino
Goniómetro: vertical, 0–0, radio aprox. 240 mm
Rango de temperatura: temperatura ambiente hasta aprox. 1200 °C
Atmósfera: aire, N₂, O₂ (reducción limitada)
Detectores: X’Celerator (1D), contador proporcional

Difusión y campos de aplicación:
El X’Pert PRO MPD se utiliza en todo el mundo, p. ej. en:
- Universidades (ETH Zurich, TU Dresden, Universidad de Viena)
- Institutos de investigación (p.ej. Institutos Max Planck, ICN2, IS2M)
- Industria (p.ej. desarrollo de materiales, farmacéutica, química)

Estado: usado / used
Alcance de suministro: (Ver imagen)
(Nos reservamos el derecho a realizar cambios y errores en los datos técnicos y la información proporcionada.)

Para cualquier consulta adicional, estaremos encantados de atenderle por teléfono.

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