Máquina de medición coordinada

Wenzel RA 1624 Triplex mit Unterflur

Estado: bueno (usado), Año de fabricación: 2004, Tipo de cabezal de corte (máx.) 460 mm Peso del cabezal de corte (máx.) 150 kg Diámetro del disco de montaje para cabezales de corte (Ø) 360 mm Cono de montaje para cabezales de corte Diámetro nominal Ø 58,227 mm Distancia de desplazamiento - z 200 mm Aumento de registro del diagrama ±10 - ± 500 µm Peso de la máquina aprox. 2,3 toneladas Espacio necesario aprox. 2 x 1,5 x 2,03 m En el proceso de fabricación de ruedas cónicas espirales, la calidad de las herramientas de tallado utilizadas desempeña un herramientas utilizadas desempeña un papel decisivo. Especialmente durante Una alta calidad de tallado de engranajes y una larga vida útil de la herramienta sólo pueden conseguirse con cabezales de tallado ajustados con precisión. lograrse con cabezales de tallado ajustados con precisión. El dispositivo de ajuste y comprobación del cabezal de corte CS 200 de Oerlikon permite un ajuste rápido y sencillo de las cuchillas individuales. y sencillo ajuste de las cuchillas individuales, comprueba la posición y documenta Iedpfjul Efmjx Abajtb y documenta los resultados de la medición. La secuencia de medición en el dispositivo de comprobación controlado por CNC está parcialmente automatizada: Las acciones individuales para llevar a cabo la acciones para llevar a cabo la secuencia se muestran en la pantalla a través de la guía del operario. El posicionamiento de las cuchillas individuales en el cabezal de corte y la altura de las puntas de las cuchillas se es en gran medida automático gracias a una secuencia especial y se documenta simultáneamente se documenta simultáneamente mediante un diagrama de recorrido. Una secuencia de medición posterior comprueba la posición radial de los filos interior y exterior de todas las cuchillas del cabezal de corte. cabezal de corte. Si los parámetros de comprobación individuales de las cuchillas no se corresponden con las especificaciones de tolerancia, se pueden reposicionar individualmente. La combinación de la secuencia de ajuste semiautomática, las acciones de ajuste guiadas por el operario y las automáticas acciones de ajuste guiadas por el operario y secuencia de medición automática, los cabezales de corte pueden pueden ajustarse de forma cómoda, rápida y con gran precisión. Secuencia de ajuste y comprobación guiada por el operario - Visualización gráfica del diseño del cabezal de corte y de los resultados de medición con comprobación de tolerancia control de tolerancia - Instrucciones para el operario en texto claro Instrucciones para el operario en texto claro (sin información codificada) - Asignación sencilla de los resultados de medición a las cuchillas - Documentación del ajuste y de los resultados de medición mediante impresora - Secuencia de ajuste y comprobación adecuada para ARCON®, RSR, Spirapid, SPIRON®, TRI-AC®. - Interfaz para datos neutros

Estado: muy bueno (usado), Tipo: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Microscopio electrónico de barrido (PC-SEM) Moderno microscopio electrónico de barrido digital de alta resolución con óptica electrónica de nueva generación e interfaz gráfica de usuario (GUI) intuitiva bajo Microsoft Windows XP Professional. Instalación del equipo incluyendo las siguientes características: Rango de aumentos: 5x - 300.000x Voltaje de aceleración: 0,3 - 30 kV Cátodo de filamento de tungsteno (opcional cátodo LaB6) Gran platina portamuestras totalmente motorizada con inclinación excéntrica, incl. Navegación gráfica en el portamuestras Navegación sencilla con Click-Center-Zoom Navegación controlada por campo visual con 2 navegadores Navegación por coordenadas relativas Guardar y reproducir posiciones de las muestras Ajuste configurable del área de imagen de la platina Iodpfx Abemn Rcqoajtb Corrección del campo visual durante la rotación mediante rotación excéntrica controlada por ordenador Corrección del campo visual durante la inclinación mediante inclinación excéntrica controlada por ordenador Cálculo del ángulo de inclinación posible según la geometría de la muestra Enfoque automático durante el desplazamiento en eje Z Interruptores de límite inteligentes para los ejes motorizados Recorrido del portamuestras: x = 125 mm y = 100 mm z = 5 a 80 mm (regulable) T = -10°C a +90°C R = 360° (ilimitado) Detector de electrones secundarios para funcionamiento en alto vacío Nuevo objetivo supercónico que garantiza la máxima resolución incluso con grandes ángulos de inclinación Resolución garantizada en imagen SE: 3 nm a 30 kV y 15 nm a 1 kV Visualización simultánea en tiempo real de múltiples detectores Navegación sencilla de la muestra mediante Click-Center-Zoom Funciones avanzadas de medición de imágenes Función "movie" para grabación de procesos dinámicos Cámara de muestras versátil con numerosas opciones de ampliación: bridas libres, por ejemplo para EDX, WDX, EBSD, catodoluminiscencia, etc. Sistema de bombeo silencioso, de bajo mantenimiento y desgaste, compuesto por bomba previa, bomba de difusión de alto rendimiento sin vibraciones y control de válvulas electromagnéticas Extensa protección contra errores de operación y fallo de medios externos Mesa ergonómica y ajustable en altura para el sistema Kit de inicio SEM compuesto por 2 portamuestras, juego de herramientas y 6 cátodos de repuesto Equipamiento adicional para el microscopio electrónico de barrido: Bomba turbomolecular en lugar de la bomba de difusión estándar Con el uso de la bomba turbomolecular, el SEM ya no requiere refrigeración por agua Más equipamiento SEM: PC para control del SEM incl. monitor TFT ΟΧ200 Bruker Quantax 200 Sistema EDX EXTENDED ¡El software Bruker EDX será transferido al nuevo propietario después de la compra! Sistema de análisis de rayos X de dispersión de energía sin nitrógeno incluyendo: Detector SDD con resolución energética de 127 eV o mejor Detección de todos los elementos a partir del boro Sin vibraciones, sin mantenimiento. Refrigerado por Peltier (sin nitrógeno) Procesador de pulsos Monitor TFT Medición de espectros e identificación de elementos Análisis automático, cuantitativo y sin estándares de elementos Captura de imagen Barrido lineal cualitativo ultrarrápido Mapeo elemental cualitativo ultrarrápido Sistema de gestión y archivo de datos Generación de reportes y resultados Comunicación de datos Instalación y formación inicial HyperMap Análisis multipunto Detector Bruker xFlash (SDD) con unidad de procesamiento de señale

Estado: bueno (usado), Año de fabricación: 2019, Funcionalidad: totalmente funcional, rango de medición Eje X: 500 mm, rango de medición Eje Y: 700 mm, rango de medición eje Z: 500 mm, duración de la garantía: 12 meses, Equipamiento: documentación / manual, SÓLO ENTREGA EN REINO UNIDO Global S Verde 05.07.05 Itsdpfxsu Snthj Abasb HH-AS6-T5, cabezal de indexación automática de 5 Palpador táctil HP-TM Kit de palpadores estándar Software de medición PC-DMIS Año de fabricación 2019 Póngase en contacto con nosotros para configuraciones alternativas. Rango de medición: X 500mm, Y 700mm, Z 500mm MPE(E0/E150) (18 °C - 22 °C) 1,5 + L/333

Estado: listo para usar (usado), Año de fabricación: 2006, Rango de trabajo X/Y: 1000mm/2200mm, precisión: 0,8 + L/450µm, peso máx. de la pieza: 800kg, dimensiones de la máquina X/Y: aprox. 3000mm/2800mm, peso: aprox. 4000kg. Incluye control manual Wenzel HT 400, ordenador con 2 monitores TFT e impresora láser Kyocera. Sin sonda de medición. Documentación disponible. Posibilidad de inspección in situ. Itjdpou T Rhzofx Abaeb

Estado: muy bueno (usado), ZEISS Tipo: DSM 962 El microscopio electrónico de barrido digitalizado DSM 962 está equipado con una memoria de imágenes integrada de 4 MB, un disco duro de 40 MB para el almacenamiento interno de imágenes y unidades para el almacenamiento externo de datos e imágenes. disco duro para el almacenamiento interno de imágenes y unidades para el almacenamiento externo de datos e imágenes. Esto permite obtener rápida y fácilmente información sobre la composición y la morfología de morfología de las superficies de las muestras hasta en el rango submicrométrico. Con gama de aumentos de 5x a 300.000x, es posible examinar tanto las macroestructuras como las microestructuras. como microestructuras. La gama de aplicaciones puede ampliarse considerablemente añadiendo accesorios especiales, lo que permite, por ejemplo es posible realizar investigaciones analíticas en microzonas de la superficie. El aparato puede manejarse tanto mediante elementos de conmutación convencionales como a través del teclado o el ratón (complemento). o ratón (complemento). La óptica de electrones y el control de vacío son convencionales. Funciones Las funciones de la memoria de imágenes se manejan mediante el teclado o el ratón (add-on). En el centro del panel frontal se encuentra una pantalla de información independiente para la visualización de los menús. Estas instrucciones de uso pretenden ser una guía para ayudar al usuario a conseguir los mejores resultados posibles con el aparato. resultados con el aparato. Las explicaciones se han mantenido lo más sencillas posible para que incluso un usuario menos experimentado Isdpfxjfcwwne Abaetb usuario menos experimentado las herramientas necesarias. Gama de aumentos: de 20x a 300.000x a 7 mm de distancia de trabajo Etapas en una secuencia de 1-2-3-5-10 Aumento mínimo: 5x a 50 mm de distancia de trabajo Resolución: 4 nm - garantizada con cátodo de tungsteno a 30 kV, 6 mm de distancia de trabajo, muestra sin punta 25 nm - garantizada con cátodo de tungsteno a 1 kV, distancia de trabajo de 6 mm, muestra sin punta 3,5 nm - garantizado con cátodo LaB6 óptimo a 30 kV, distancia de trabajo de 6 mm, muestra sin puntas Volumen de suministro: (DSM 962 con accesorios como se muestra) Estado: usado (Sujeto a cambios y errores en los datos técnicos y especificaciones) Por favor, pregunte por las opciones de transporte antes de comprar. Estaremos encantados de responder a sus preguntas por teléfono.

Estado: usado, Año de fabricación: 2012, Recorrido x 1600 mm Recorrido y 4000 mm Recorrido z 1200 mm Peso de la pieza 3500 kg Itsdpfexcbhxjx Abaob

Año de fabricación: 1999, Estado: muy bueno (usado), Control: Control CNC y control manual PC P 2000 MMX-PCI de sobremesa ATX pantalla color 15", teclado Rugosidad CNC-Turbo para WINDOWS DATOS TÉCNICOS Placa de prueba de piedra dura (DIN 876) Largo x ancho 1200 x 500 mm Precisión grado 2 Planitud 16,6 µm Peso 250 kg Unidad de avance lineal Waveline 60 Basic Longitud de la sonda 60 mm Resolución 0,014 µm Itodpfx Abolxyp Hjaob Columna de medición Wavelift 400 CNC Recorrido 400 mm Repetibilidad de posicionamiento ˂ 10 µm Dimensiones de la unidad An x Pr x Al 1,8 x 0,8 x 2,2 m Peso 600 kg EQUIPAMIENTO/ACCESORIOS  Cerramiento completo con persianas enrollables de accionamiento eléctrico  Placa de piedra dura 1200 x 500 mm  Eje de avance ISEL con accionamiento por husillo de bolas  Placa de fijación de la pieza de trabajo  Unidad de avance lineal Waveline 20/60  Columna de medición Wawelift 400 CNC  Unidad basculante KEG 60 en la columna de medición, manual a la Waveline  Kit de instalación para medición de rugosidad  Kit de instalación para medición de contornos  Varios palpadores y soportes para medición de rugosidad y contornos  Tabla de equipamiento  Botón de parada de emergencia en la mesa del equipo  Juego de calibración  Prismas de soporte  Unidad de mantenimiento para la preparación de aire comprimido  Elementos de amortiguación de aire para el montaje de la placa de piedra dura  Documentación

Estado: reacondicionado (usado), Se vende husillo principal Mazak revisado para VTC 200 o VTC 300. El husillo ha sido completamente revisado, los rodamientos y casquillos intermedios han sido reemplazados. El cono ha sido rectificado. Posteriormente, se ha equilibrado. La velocidad máxima es de 12.000 rpm. Disponemos de más husillos Mazak revisados en stock; envíenos su consulta. Se trata de un husillo de intercambio, es decir, es necesario entregar la pieza usada. Si tiene más preguntas, estamos a su disposición. Iodpjvdkdiefx Abaotb

Estado: muy bueno (usado), Año de fabricación: 1998, Funcionalidad: totalmente funcional, rango de medición Eje X: 500 mm, rango de medición Eje Y: 700 mm, rango de medición eje Z: 400 mm, Equipamiento: placa de características disponible, Máquina de medición por coordenadas Mitutoyo EURO M 574 en muy buen estado a la venta. Sin ordenador ni software. Año de fabricación: 1999 ¡Sin PC! Eje X: 500 mm Eje Y: 700 mm Eje Z: 400 mm Resolución: 0,0005 mm Mesa de medición: granito Cabezal de palpado Renishaw MH 20i Dimensiones de la base de granito: 850 mm x 1160 mm Patrón de longitud: regla lineal de alta precisión Microscopio de centrado: Mitutoyo CF-10 Sujeción y ajuste fino: sujeción neumática One-Touch para cada eje, ajuste fino continuo en todo el recorrido de cada eje. Área utilizable: 680 x 1160 mm Fijación de pieza: inserto roscado M8 x 1,25 Pieza: Distancia entre columnas: 720 mm Altura máxima: 480 mm Peso máximo: 160 kg Sin PC Incertidumbre de medición según ISO 10360 E = [3,5 + 4,0L/1000] µm en rango de temperatura de 18 a 22 °C Iodou E Uzxopfx Abaetb Peso de la máquina: 450/540 kg

Estado: nuevo, Año de fabricación: 2018, NUEVO producto a un precio especial Máquina de Innometrik de medición por coordenadas táctil Rango de medida 1200 x 3000 x 1000 Peso de pieza máximo: 1000 Kg Precisión MPEE: 2.2 + L / 350 (en μm) Escala resolución: 0,1 / 0,5 en μm -Rodamientos en los ejes de aire Itjdjdyl H Nspfx Abasb Velocidad linear: 300mm / s Velocidad volumétrica: 520 mm / s Toque la punta de prueba: Renishaw Tp200 incluye 3 módulos (SF, HF, LF) y compartimiento del cambiador 3 sonda Software: OptiCheck 4.5 y Polyworks Virtual DMIS (particiones separadas) opcionalmente según requisitos de cliente -Incluye PC (Windows 7) o bien Windows 10 -Incluye 2 monitores -Incluye ratón y teclado Foto: hermana dispositivo