Microscopio electrónico de barrido (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Aquí le ofrecemos un microscopio electrónico de barrido Jeol.

Microscopio electrónico de barrido Jeol JSM-6490 (PC-SEM)

Microscopio electrónico de barrido digital de última generación y alta resolución
Cjdemn Rcqopfx Aa Ssrh
con óptica electrónica de nuevo desarrollo e intuitiva
interfaz gráfica de usuario (GUI) bajo Microsoft WindowsXP Professional.

Gama de aumentos: 5 X - 300.000 X
Tensión de aceleración: 0,3 - 30 kV
Cátodo de horquilla de tungsteno (cátodo LaB6 opcional)
Amplia platina de muestra totalmente motorizada con inclinación excéntrica
inclinación excéntrica, incl.
Navegación gráfica en el portamuestras
Fácil navegación de la muestra con zoom central
Navegación controlada por campo de imagen mediante 2 navegadores
Navegación por coordenadas relativas
Guardado y reinicio de las posiciones de las muestras
Movimiento blldschnittswelses ajustable de la platina de muestras
Corrección del campo durante la rotación mediante rotación eucéntrica
rotación excéntrica
Corrección del campo de imagen durante la inclinación mediante inclinación eucéntrica controlada por ordenador
inclinación eucéntrica controlada por ordenador
Cálculo del ángulo de inclinación posible en función de la
geometría de la muestra
seguimiento automático del enfoque al mover la muestra en
muestra en el eje Z
Finales de carrera inteligentes para los ejes motorizados

Recorrido de la platina de la muestra
x=125mm
Y=100 mm
z= 5 a 80 mm (continuo)
T= -10°C a+ 90°C
R= 360°C (sin fin)
Detector de electrones secundario para funcionamiento en alto vacío
Novedosa lente objetivo supercónica que garantiza la máxima
resolución de imagen incluso con grandes ángulos de inclinación
Resolución garantizada En la imagen SE: 3 nm a 30 kV y
15 nm a 1 kV
Visualización simultánea de imágenes en directo de varios detectores
Fácil navegación por la muestra con el Cllck Centre Zoom
Potentes funciones de medición de imágenes
Función de vídeo para grabar procesos dinámicos
Cámara de muestras versátil con numerosas
bridas libres, por ejemplo, para EDX, WDX
EBSD, catodoluminiscencia, etc.
Sistema de bombeo silencioso de bajo mantenimiento y desgaste
compuesto por bomba de apoyo, bomba de difusión de alta elasticidad sin vibraciones
y control electromagnético de la válvula
Amplia protección contra errores de funcionamiento
y fallos de los medios externos
Mesa del sistema ergonómica y regulable en altura
Kit de inicio REM compuesto por 2 portamuestras
juego de herramientas y 6 cátodos de repuesto

Equipamiento adicional

2x ΜΡ-43100 (TMP)

Bomba turbomolecular
en lugar de la bomba de difusión estándar
Cuando se utiliza una bomba turbomolecular, ya no se
no se necesita más agua de refrigeración para el funcionamiento del SEM.

Más equipamiento:

PC para el control del SEM
incl. monitor TFT

ΟΧ200 Sistema EDX Bruker Quantax 200 EXTENDED

Sistema de análisis por energía dispersiva de rayos X sin nitrógeno.
incl:

Detector SDD con 127 eV o mejor resolución de energía.
Detección de todos los elementos a partir del boro.
Sin vibraciones, sin mantenimiento. Refrigeración Peltier (sin nitrógeno)
Procesador de impulsos
Monitor TFT
Medición de espectros y descomposición elemental
Análisis elemental totalmente automático, cuantitativo y
análisis elemental
Adquisición de imágenes
LIneScan cualitativo superrápido
Mapeo cualitativo superrápido de elementos
Sistema de gestión y archivo de datos
Generación de informes y salida de resultados
Comunicación de datos
Instalación y formación
HyperMap
Análisis multipunto

Detector Bruk

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