Espectrómetro de proceso Bruker MATRIX-F

Bruker MATRIX-F

Estado: usado, Spectro Tipo: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Fecha: 24.07.2020 Análisis completo con el espectrómetro de chispa estacionario SpectroMaxX: Con ayuda del espectrómetro de chispa, el contenido de aleación y los elementos acompañantes de muestras sólidas macroscópicas pueden pueden determinarse con gran precisión hasta el intervalo de ppm. Se dispone de diferentes métodos de análisis para los materiales base hierro, aluminio, magnesio, cobre, níquel, titanio y plomo, se dispone de métodos adaptados a las familias de aleaciones correspondientes. Ventajas: Análisis rápido en pocos segundos Análisis espectral de alta precisión, incluidos C y N Diseño compacto (dispositivo de sobremesa) Áreas de uso / aplicación: Análisis de la composición química de 31 metales férricos y no férricos Composición de 31 metales ferrosos y no ferrosos metales, nitrógeno y otros elementos Descripción del sistema Soporte de chispa abierto para un alto rendimiento de muestras Gran variedad de geometrías de muestra posibles Sencillo cambio de base Los siguientes elementos están disponibles como base Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb Los elementos y niveles de concentración que pueden analizarse dependen de los métodos disponibles para el elemento base respectivo Rango de longitud de onda utilizable 170-670 nm Salida de los valores medidos en concentraciones o intensidades Unidades de salida seleccionables (%, ppm) Salida de valores estadísticos característicos (valor medio, RSD) SPECTROMAXx LMX08 Especificaciones técnicas: Óptica CCD: Multidetectores CCD de alta resolución Estabilizados frente a fluctuaciones de temperatura Rango de longitud de onda efectiva: 140-670 nm, el rango de longitud de onda aplicable y configurado gama de longitudes de onda depende de los requisitos de aplicación del cliente. Perfilado automatizado Módulos de análisis: Módulos de análisis de libre elección Optimizados según los requisitos del cliente Posibilidad de ampliación con módulos adicionales in situ Soporte de chispas: Soporte de chispas abierto para muestras de gran tamaño Rendimiento y diversas geometrías de muestras Consumo de argón minimizado gracias al módulo de ahorro de argón Flujo de argón optimizado Intervalos de limpieza reducidos Placa del soporte de chispas fácilmente sustituible Diseño que absorbe la temperatura sin refrigeración por agua Sistema de obturador integrado para una visión optimizada del plasma Sistema de excitación: Generador de plasma totalmente digitalizado con definición de descarga digital, generación digital de impulsos y control digital de impulsos offline Microcontrolador de 32 MHz Máx. Duración de la chispa: 4000 µs Isdpfou S Ahqex Adpsa Potencia máx. Potencia de chispa 4 kW Sistema de visualización: Microcontrolador independiente para cada CCD Interfaz de fuente en serie Espectrómetro: Ordenador externo de última generación Sistema PC con sistema operativo Windows Teclado y ratón Monitorización Software: Software Spark Analyzer Pro MAX para el funcionamiento analítico y la calibración Diagnóstico automático continuo del hardware en segundo plano Verificación e identificación automática de la aleación/calidad Gestor de resultados Programador de mantenimiento en línea Condiciones ambientales: Temperatura ambiente: 10-30°C Condiciones ambientales: (10-30°C) Humedad relativa

Estado: como nuevo (usado), Año de fabricación: 2024, Funcionalidad: totalmente funcional, Microscopio electrónico de barrido Zeiss XB 350 Equipamiento y accesorios • Sin columna FIB • Software SmartSEM y SmartFIB • GIS con precursor de Pt Iedpfjw Rdvvex Adpja • Limpiador de plasma integrado • EDX Oxford Xplore 30 (incl. interfaz y software) • Exclusa automática de 200 mm • Paso eléctrico (2 x 15 canales) • Enfriador de recirculación • Tanque de amortiguamiento de vacío modo silencioso • ... así como mesa, monitor, consolas de control (teclado y joystick propietarios de Zeiss) y varios soportes para muestras Puesta en marcha: agosto de 2024 Ubicación: Maguncia Disponibilidad: Disponible a corto plazo previa consulta. El equipo sigue en funcionamiento y puede ser inspeccionado y demostrado previa cita. El equipo no presenta defectos ni daños y es completamente funcional. ¡Más información disponible a solicitud!

Estado: listo para usar (usado), Escalas: Rockwell/Rockwell-Superficial, altura máxima de pieza: aprox. 180 mm, profundidad máxima de ensayo: aprox. 165 mm, tiempo de permanencia: aprox. 3 s, salida de datos: Digimatic/RS-232-C, dimensiones de la máquina (X/Y/Z): aprox. 250 mm/520 mm/780 mm, peso: aprox. 50 kg. Documentación disponible. Es posible una inspección in situ. Iodpfexc Niwjx Adpja